什麼是臨界核半徑
在成核中,超過它時成長較為穩定的核半徑。球形核為 r* = −2γ/ΔGv,過冷度越大越小。
日文名稱: 臨界核半径
「臨界核半徑」出現在1領域的2道練習題中(薄膜、表面與奈米材料等)。
這個名詞所屬的領域: 薄膜、表面與奈米材料
在成核中,超過它時成長較為穩定的核半徑。球形核為 r* = −2γ/ΔGv,過冷度越大越小。
日文名稱: 臨界核半径
「臨界核半徑」出現在1領域的2道練習題中(薄膜、表面與奈米材料等)。
這個名詞所屬的領域: 薄膜、表面與奈米材料
在液體或過飽和的母相中生成的小原子團(胚),會依體積比例降低能量,另一方面又會依表面積比例,增加相當於界面能的能量。球形的自由能變化 ΔG = (4/3)πr³ΔGv + 4πr²γ,在 r 小時由表面項主導而增加,在某個半徑達到最大後才減少。這個最大值的位置就是臨界核半徑 r*。小於 r* 的胚收縮時能量下降,大於 r* 的核則是成長時能量下降,因此 r* 是決定核能否存活下來的分界。
在凝固中,單位體積的自由能變化可近似為 ΔGv ≈ −ΔHf ΔT/Tm(ΔHf 為單位體積的熔化熱,ΔT 為過冷度),因此 r* = 2γTm/(ΔHf ΔT),與過冷度成反比。以金為例,取 γ = 0.132 J/m²、ΔHf = 1.16×10⁹ J/m³、Tm = 1337 K,則 ΔT = 100 K 時 r* 約為3.0 nm,200 K 時約為1.5 nm。成核能障 ΔG* 與 ΔT² 成反比,因此過冷度只要稍微增加,成核的頻率就會提高好幾個數量級。
在容器壁或雜質粒子上發生的異質成核中,核是接觸角為θ的球冠。此時臨界狀態的曲率半徑與均質成核相同,都是 r*,變小的是核的體積與能障。能障變為 f(θ) = (2 + cosθ)(1 − cosθ)²/4 倍,θ = 60° 時約為0.16倍,30° 時約為0.013倍。此外,r* 是核變得穩定的最小尺寸,與凝固後的晶粒或析出物的大小是不同的東西。最終晶粒的大小,由生成的核的數目與之後成長的快慢決定。
鑄造時添加接種劑使晶粒細化,是為了增加接觸角小的基底、降低異質成核的能障,讓過冷度小也能生成許多核。在析出的熱處理中,降低時效溫度以增大過飽和度(驅動力)時,r* 會變小,細小的析出物就會以高密度生成。薄膜的成長也使用相同的想法,降低基板溫度或提高沉積速率時,過飽和度增加、臨界核變小,容易得到島的密度高、組織細緻的膜。
正確答案:C. 約1.0 nm
將ΔG對r微分並令其為0,得 r* = −2γ/ΔGv,r* = 2 × 0.10/(2.0×10⁸) = 1.0×10⁻⁹ m = 1.0 nm。約0.5 nm 是漏掉係數2的 −γ/ΔGv 的值,約2.0 nm 是把臨界核的直徑(2r*)誤當成半徑的值。小於 r* 的胚收縮時能量下降,因此容易消失,只有超過 r* 的核才會持續成長。過冷度越大,|ΔGv| 越大,因此 r* 越小,成核能障 ΔG* = 16πγ³/(3ΔGv²) 也急遽下降,成核變得容易發生。
正確答案:C. 不變
異質成核的核是以接觸角θ附著在基板上的球冠(球的一部分)形狀。臨界狀態下的曲率半徑只由界面能與單位體積的自由能變化決定,為 r* = −2γ/ΔGv,與均質成核相同。不同之處在於,即使曲率半徑相同,球冠的體積比球小,因此核所需的原子數與能障縮小為 f(θ) 倍。能障下降容易與半徑變小混淆,請注意。有基板也不代表臨界半徑會變大。
求出球形核的自由能變化 ΔG = (4/3)πr³ΔGv + 4πr²γ 為最大值時的半徑。由 dΔG/dr = 0 得到 r* = −2γ/ΔGv,再代回 ΔG,就得到能障的高度 ΔG* = 16πγ³/(3ΔGv²)。
依材料與過冷度而定。金在 ΔT = 100 K 時 r* 約為3 nm,這個大小的球約含7000個原子。ΔT = 200 K 時半徑減半,原子數約變為8分之1,不到1000個。
ΔT 接近0時 ΔGv 也接近0,因此 r* 變為無限大,無法生成核。在熔點時凝固不會開始,需要某種程度的過冷,原因就在這裡。