Grundlagen der Werkstoffanalytik und Schadensanalyse
Von den Grundlagen der Kristallstrukturen, Defekte und Diffusion über Vorgänge an dünnen Schichten und Oberflächen und Analyseverfahren wie XRD, REM, TEM, XPS und SIMS bis zum Lesen von Bruchflächen und zu Schäden durch Ermüdung und Korrosion. Geeignet für alle, die in der Prozesstechnik oder der Schadensanalyse lernen möchten, Analyseergebnisse sicher zu interpretieren.
- Kristallstrukturen und Millersche Indizes
- Kristallbaufehler und Diffusion
- Dünne Schichten, Oberflächen und Nanomaterialien
- Werkstoffanalytik (REM, TEM, XRD, XPS)
- Bruchmechanik und Ermüdung
- Korrosion und Oberflächenbehandlung
Ein Thema gilt als abgeschlossen, wenn Sie mindestens 60 % seiner Fragen mit einer Trefferquote von mindestens 80 % beantwortet haben.