材料分析(SEM、TEM、XRD、XPS)

以Al Kα射線(能量1486.6 eV)進行XPS時,量得Si 2p光電子的動能為1378.8 eV。設儀器的功函數為4.5 eV,束縛能最接近下列何者?

  1. A約112.3 eV
  2. B約107.8 eV
  3. C約103.3 eV
查看答案與解析

正確答案:C. 約103.3 eV

由光電效應的能量守恆,束縛能為 E_B = hν − E_K − φ = 1486.6 − 1378.8 − 4.5 = 103.3 eV。Si 2p的束縛能在元素態Si約為99 eV,高了約4 eV的這個值是SiO₂(Si⁴⁺)的典型值,可判斷表面已被氧化。約107.8 eV 是忘了減去功函數的值,約112.3 eV 是應減去功函數卻加上的值。量測絕緣物時,帶電會使峰偏移,因此常以表面汙染碳的C 1s峰(約284.8 eV)為基準修正束縛能。

回報錯誤

練習這個領域 前往領域頁面

相關計算工具

材料分析(SEM、TEM、XRD、XPS)的其他題目

  1. 在半導體失效分析中,要以ppm〜ppb等級的靈敏度調查摻雜物的縱深濃度分布,最適合的方法為下列何者?
  2. 將高分子試樣一邊加熱一邊量測時,適合偵測玻璃轉移溫度Tg的方法及其呈現方式,下列何者正確?
  3. 以TGA加熱單水草酸鈣(CaC₂O₄·H₂O,莫耳質量146.1 g/mol)時,首先脫去結晶水。這第1階段的質量減少率最接近下列何者?設H₂O的莫耳質量為18.0 g/mol。
  4. 以Cu Kα射線(波長0.15406 nm)進行XRD時,晶面間距0.3135 nm的Si(111)面的1次繞射峰出現的繞射角2θ最接近下列何者?
  5. 在FCC結構金屬的粉末XRD中,出現在最低角度側的繞射峰指數為下列何者?