材料分析(SEM、TEM、XRD、XPS)
以Cu Kα射線（波長0.15406 nm）進行XRD時，晶面間距0.3135 nm的Si(111)面的1次繞射峰出現的繞射角2θ最接近下列何者？
- A約14.2°
- B約28.4°
- C約58.9°
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正確答案：B. 約28.4°
由布拉格定律 2d sinθ = nλ（n = 1），sinθ = 0.15406/(2 × 0.3135) ≈ 0.2457，θ ≈ 14.2°，繞射角為 2θ ≈ 28.4°。XRD的儀器與數據，通常以入射X光與繞射X光的夾角2θ為橫軸。約14.2°是直接答θ的錯誤，約58.9°是漏掉布拉格式中的2、算成 sinθ = λ/d 的錯誤。矽粉末28.4°附近的峰強而尖銳，因此也常作為繞射角校正的標準。