什麼是間接能隙半導體

導電帶底部與價電帶頂部的晶體動量不同的半導體。輻射復合需要聲子,發光效率低。矽與鍺。

日文名稱: 間接遷移型半導体

「間接能隙半導體」出現在2領域的2道練習題中(電子、磁性與光學材料, 玻璃與非晶質材料等)。

這個名詞所屬的領域: 電子、磁性與光學材料

能帶的谷與峰位置錯開

晶體中電子的能量隨晶體動量(波向量k)改變。間接能隙型中,導電帶最低的點(谷)與價電帶最高的點(峰)位於不同的k。矽的峰在Γ點(k = 0),谷則位於由Γ點朝X點途中約85%的位置。鍺的谷在L點。室溫的能隙,Si約1.12 eV,Ge約0.66 eV,GaP(約2.26 eV)、AlAs、鑽石也是間接能隙型。

光的吸收弱

光子的動量與電子的晶體動量相比非常小,因此光的吸收或放出時k幾乎不變。間接能隙型要吸收能隙附近的光,需要聲子同時補償動量差,機率變低。因此矽在能帶邊緣附近的吸收係數小,太陽電池需要100 µm以上厚度的基板,或以表面凹凸將光封閉的設計。由吸收係數的量測求能隙時,間接能隙型是將 (αhν)^(1/2) 對hν作圖。

發光弱、壽命長

電子與電洞放出光而復合的機率,在間接能隙型中也非常小。輻射復合係數Si比GaAs小約4個數量級,注入的電子與電洞大多經由缺陷能階的非輻射復合變成熱。這就是矽難以做成LED或雷射的原因。過去的綠色GaP發光二極體,是將電子局限在加入氮所形成的能階上,放寬動量的限制而使其發光。反之,載子壽命長在太陽電池或光偵測元件中是優點。

以矽處理光的設計

雖然光的吸收弱,矽能良好地偵測從可見光到波長約1.1 µm的光,因此是影像感測器與太陽電池的主角。使其發光的設計也在研究中,鍺的直接能隙(約0.80 eV)只比間接能隙高約0.14 eV,因此有以拉伸應變與n型高濃度摻雜使其發光的嘗試。實用的矽光子學中,一般是在光源接合InP等直接能隙型半導體,受光則使用在Si上成長的Ge。

練習間接能隙半導體的題目

矽幾乎不被用作發光二極體發光材料的主要原因為下列何者?

  1. A是直接能隙型半導體,電子與電洞不發光而是放出聲子並立即復合
  2. B能隙約3.4 eV而太大,只能發出比可見光波長更短的紫外光
  3. C是間接能隙型半導體,輻射復合需要聲子參與,因此發光效率低
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正確答案:C. 是間接能隙型半導體,輻射復合需要聲子參與,因此發光效率低

矽是間接能隙型半導體,導電帶的底部與價電帶的頂部位於不同的晶體動量位置。電子與電洞要發光復合,需要同時有補償動量差的聲子參與,因此輻射復合的機率非常低,大多經由缺陷能階的非輻射復合變成熱。GaAs或InGaN這類直接能隙型能有效率地發光,因此用於LED與雷射。直接能隙型反而是有利於發光的性質。約3.4 eV不是矽而是GaN的能隙,矽約為1.12 eV,因此即使發光,也是波長約1.1 µm的紅外光。

氫化非晶矽(a-Si:H)與結晶矽性質的比較,正確者為下列何者?

  1. A原子排列無序,因此幾乎不吸收可見光,可取代ITO用於透明電極
  2. B可見光吸收係數比結晶矽大,1 µm以下的膜即可,但電子遷移率小2〜3個數量級
  3. C電子遷移率比結晶矽還要大,因此目前取代結晶矽而被廣泛用於高速微處理器的電晶體之中
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正確答案:B. 可見光吸收係數比結晶矽大,1 µm以下的膜即可,但電子遷移率小2〜3個數量級

結晶矽是間接能隙型半導體,對可見光中波長較長的光吸收弱,因此太陽能電池通常使用厚度100 µm以上的基板。a-Si:H沒有長程週期性,躍遷前後動量守恆的限制放寬,因此可見光的吸收係數比晶體大,厚度1 µm以下的膜就能吸收光。另一方面,載子會被無序網絡形成的能帶尾端能階捕捉,因此電子遷移率約為1〜10 cm²/(V·s),比結晶矽的約1400 cm²/(V·s)小2〜3個數量級。因此不適合高速邏輯電路,而是發揮能在約300℃大面積成膜的優點,用於液晶顯示器畫素的TFT與薄膜太陽能電池。其能隙約1.7 eV,會強烈吸收可見光,不能作為透明電極。

常見問題

直接能隙型與間接能隙型要怎麼區分?

除了能帶結構的計算或角解析光電子能譜之外,也由吸收係數的上升方式判斷。直接能隙型在吸收邊急遽變強,發光也強。間接能隙型的吸收緩慢增加,發光弱。

矽發光時會是什麼波長的光?

是對應能隙約1.12 eV、波長約1.1 µm的近紅外光。眼睛看不見,而且效率極低,因此不用於照明或顯示。

間接能隙型的矽為什麼用於太陽電池?

雖然吸收弱,但能隙大小適合太陽光,資源豐富,又能便宜地大量製造高品質的晶體。載子壽命長,在厚基板深處產生的電子與電洞也容易到達電極,這也是優點。

解析中的「間接能隙半導體」

出現「間接能隙半導體」的題目(2題)

  1. 矽幾乎不被用作發光二極體發光材料的主要原因為下列何者?
  2. 氫化非晶矽(a-Si:H)與結晶矽性質的比較,正確者為下列何者?

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