Werkstoffanalytik (REM, TEM, XRD, XPS)

Beim XRD hatte ein Reflex bei 2θ = 38,2° eine Halbwertsbreite (nach Abzug der gerätebedingten Verbreiterung) von 0,40°. Welcher Wert kommt der Kristallitgröße am nächsten, wenn die Scherrer-Gleichung D = Kλ/(β cosθ) mit K = 0,9 und λ = 0,15406 nm verwendet wird?

  1. Aca. 0,37 nm
  2. Bca. 25 nm
  3. Cca. 21 nm
Lösung und Erläuterung anzeigen

Lösung: C. ca. 21 nm

Die Halbwertsbreite wird in Radiant umgerechnet, β = 0,40 × π/180 ≈ 6,98×10⁻³ rad, und für θ wird die Hälfte von 2θ, also 19,1° (cosθ ≈ 0,945), verwendet. D = 0,9 × 0,15406/(6,98×10⁻³ × 0,945) ≈ 21 nm. Ca. 0,37 nm setzt β in Grad als 0,40 ein, ca. 25 nm verwendet statt θ den Kosinus von 2θ, cos38,2°. Die Scherrer-Gleichung liefert nicht die Korngröße selbst, sondern die Größe der kohärent beugenden Kristallite. Auch inhomogene Gitterverzerrungen verbreitern die Reflexe; streng genommen werden beide Beiträge deshalb mit Verfahren wie der Williamson-Hall-Methode getrennt. Bei großen Kristalliten ist die Verbreiterung zu gering, um die Größe genau zu bestimmen.

Fehler melden

Dieses Thema üben Zurück zum Thema

Passende Rechner

Weitere Fragen zum Thema „Werkstoffanalytik (REM, TEM, XRD, XPS)“

  1. Welche Aussage über Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronenbilder im REM trifft zu?
  2. Welcher Vergleich von EDX (energiedispersiv) und WDX (wellenlängendispersiv) zur Analyse charakteristischer Röntgenstrahlung im REM und in der ESMA (Elektronenstrahl-Mikroanalyse) trifft zu?
  3. Was ist der Hauptgrund dafür, dass Proben für die TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) auf etwa 100 nm oder weniger gedünnt werden müssen?
  4. Welche Aussage über die Informationstiefe der XPS (Röntgen-Photoelektronenspektroskopie) und die damit gewonnenen Informationen trifft zu?
  5. Bei der XPS mit Al-Kα-Strahlung (Energie 1486,6 eV) wurde für Si-2p-Photoelektronen eine kinetische Energie von 1378,8 eV gemessen. Welcher Wert kommt der Bindungsenergie am nächsten, wenn die Austrittsarbeit des Spektrometers 4,5 eV beträgt?