Welcher Wert kommt bei XRD mit Cu-Kα-Strahlung (Wellenlänge 0,15406 nm) dem Beugungswinkel 2θ des Reflexes erster Ordnung der Si-(111)-Ebenen mit einem Netzebenenabstand von 0,3135 nm am nächsten?

Lösung: B. ca. 28,4°

Aus der Bragg-Gleichung 2d sinθ = nλ (n = 1) folgt sinθ = 0,15406/(2 × 0,3135) ≈ 0,2457, also θ ≈ 14,2° und der Beugungswinkel 2θ ≈ 28,4°. In XRD-Geräten und -Daten wird üblicherweise 2θ, der Winkel zwischen einfallendem und gebeugtem Röntgenstrahl, auf der waagerechten Achse aufgetragen. Ca. 14,2° gibt fälschlich θ selbst an, ca. 58,9° lässt den Faktor 2 in der Bragg-Gleichung weg und rechnet mit sinθ = λ/d. Der Reflex von Siliziumpulver bei etwa 28,4° ist stark und scharf und wird daher auch häufig als Standard zur Kalibrierung der Beugungswinkel verwendet.